Imperfecties verbeteren RFID-beveiliging

De huidige RFID-technologie kan beveiligd worden door gebruik te maken van minuscule imperfecties die tijdens het fabricageproces onvermijdelijk in computerchips sluipen. Verayo, een spin-off van het prestigieuze Massachusetts Institute of Technology (MIT), heeft een manier ontwikkeld om radio frequency identification-chips (RFID) te verbeteren.